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  • F32-Filmetrics光學膜厚測量儀

    -Filmetrics光學膜厚測量儀:F32先進的光譜分析系統采用半寬的3U rack-mount底盤,加上附加的分光計,可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本多兩個位置)。F32軟件可以通過數字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復位測量。測量數據可以自動導出到主機軟件中進行統計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件,以便于集成到現有的生產裝置上。

    型號:F32
    更新日期:2021-11-11
    面議
  • F20-Filmetrics光學膜厚測量儀

    -Filmetrics光學膜厚測量儀:不論您是想要知道薄膜厚度、光學常熟,還是想要知道材料的反射率和透過率,F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設備就可以在數秒內得到測量結果?;谀衬K化設計的特點,F20適用于各種應用:

    型號:F20
    更新日期:2021-11-11
    面議
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