iNano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。 該儀器的力荷載和位移測量動態范圍很大，因而可以實現從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復測試。 模塊化選項適用于各種應用：材料性質分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。

型號：iNano®

更新日期：2021-11-11

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Zeta-20臺式光學輪廓儀是一款緊湊牢固的全集成光學輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統采用ZDot™技術，可同時采集高分辨率3D數據和True Color（真彩）無限遠焦點圖像。 Zeta-20具備Multi-Mode（多模式）光學系統、簡單易用的軟件、以及低擁有成本，適用于研發及生產環境。

型號：

更新日期：2021-11-11

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Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現快速和可 靠地薄膜測量。大多數厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就 可以獲得非常精密和準確的數據。

型號：Film Sense FS-1™

更新日期：2019-06-21

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Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是半導體在線檢測設備市場的供應商，在半導體、數據存 儲、 MEMS 、太陽能、光電子以及其他領域中有著極高的市占率。P-7 是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不斷迭代更新，集合眾多技術優勢。P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統 的成功基礎之上。

型號：KLA P-7

更新日期：2021-11-11

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Filmetrics 光學膜厚測量儀測厚儀 嵌入式在線診斷 免費離線分析軟件 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果

型號：F37

更新日期：2021-11-11

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Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率，F10-RT使Filmetrics的分析能力實現了同步測量反射率與穿透率。只要立即的點擊鼠標就能夠產生在客戶是定波長范圍內，得出Z大與Z小的反射率與穿透率。

型號：F10-RT

更新日期：2021-11-11

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Filmetircs 光學膜厚測量儀 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的先進厚度測試系統，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。

型號：F3-sX

更新日期：2021-11-11

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HERZ TS系列 主動式隔震系統 防振臺，主動式隔震系統創建一個穩定的測量環境。如需了解更多，咨詢。。。

型號：防震臺

更新日期：2021-11-11

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